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緊湊型電磁干擾掃描系統

]資料
如果(guo)您對(dui)該產(chan)品感興趣的(de)話,可以
產品名稱: 緊湊型電磁干擾掃描系統(tong)
產品型號: EMxpert
產品展商: 艾(ai)仕歐(ou)
產品文檔: 無相(xiang)關(guan)文檔


簡單介紹
EMxpert緊湊型電磁干(gan)(gan)(gan)擾(rao)掃(sao)(sao)描系(xi)統把EMC問題的考慮和抑制引入(ru)到設(she)計(ji)階段,讓設(she)計(ji)工程師及(ji)早發現問題,及(ji)時從根(gen)源采取有效措施,消除或抑制電磁干(gan)(gan)(gan)擾(rao),從而(er)加(jia)快(kuai)產品的設(she)計(ji)進程,提高(gao)設(she)計(ji)質量,節(jie)省開發費用,確保產品及(ji)早通過EMC測試。EMxpert緊湊型電磁干(gan)(gan)(gan)擾(rao)掃(sao)(sao)描系(xi)統,由ISM電磁干(gan)(gan)(gan)擾(rao)掃(sao)(sao)描器(qi)、控制適配(pei)器(qi)以及(ji)頻譜分析儀/接收機組成。

緊湊型電磁干擾掃描系統

的詳細介紹

緊湊型電磁干擾掃描系統

具有1218個探頭的(de)ISM陣列掃描(miao)器

實時看清電(dian)磁(ci)場,定位電(dian)磁(ci)干(gan)擾問題


EMSCAN電磁干擾掃描

EMxpert系統把EMC問(wen)題的考慮和抑(yi)(yi)制引入到設(she)計(ji)(ji)階段,讓設(she)計(ji)(ji)工(gong)程師(shi)及(ji)早(zao)(zao)發現問(wen)題,及(ji)時從根源采取(qu)有效措施,消除或(huo)抑(yi)(yi)制電磁干擾,從而加(jia)快產(chan)品的設(she)計(ji)(ji)進程,提(ti)高設(she)計(ji)(ji)質量(liang),節省(sheng)開(kai)發費用,確保產(chan)品及(ji)早(zao)(zao)通過(guo)EMC測(ce)試(shi)。EMxpert系統,由ISM電磁干(gan)擾(rao)掃描器、控(kong)制適(shi)配器以及頻譜分析儀/接收機組(zu)成。

ISM掃描器(qi),是(shi)全球(qiu)唯(wei)壹采用陣(zhen)列探頭進行近(jin)場掃描的系統,采用電子切換,具有1218個(ge)近場(chang)探頭。

EMxpert系統為企業(ye)客戶在產品(pin)開(kai)發(fa)期間(jian)進行電(dian)磁兼(jian)容測(ce)試和整改提(ti)供了高性能、經濟型、便(bian)攜式電(dian)磁兼(jian)容綜(zong)合測(ce)試系統。

 EMxpert系(xi)統具有(you)強大(da)的(de)電磁兼容測試(shi)、診斷能力:

1.     EMxpert電磁(ci)兼(jian)容高速掃(sao)描(miao)系統(tong),采(cai)用陣列探頭、電子掃(sao)描(miao),高速掃(sao)描(miao)元(yuan)器件、模(mo)塊、電纜和(he)設備的電磁(ci)場空間(jian)分布,用于(yu)產品開發早期的電磁(ci)兼(jian)容分析和(he)電磁(ci)兼(jian)容問題排查、診斷。

2.     同時(shi)測量、存儲和分析近場(chang)數據、遠(yuan)場(chang)數據,自動標識背(bei)景噪聲,在(zai)普通環境下實現準確的輻射發(fa)射測試。

3.     全套系統,具備(bei)精(jing)簡、輕巧及電池(chi)操作的(de)特性,對(dui)需要現(xian)場測試并定位干(gan)擾源工作的(de)EMI工程師、網絡營運(yun)商和政府(fu)機構(gou)來說(shuo),是理想(xiang)的解決方案。


EMSCAN電磁干擾掃描

EMSCAN電磁干擾掃描


頻譜掃描

測量和畫出(chu)選定頻率(lv)范(fan)圍(wei)內各頻率(lv)的(de)幅度(du)峰值,從中可以看出(chu)電路板上(shang)有(you)問題的(de)頻率(lv)。

空間掃描

用來確定(ding)選定(ding)頻(pin)率點的輻射源(yuan)的具體(ti)位置及強度,給出(chu)EMI位置和強度的圖(tu)(tu)形(xing)。不同(tong)的幅(fu)度以(yi)不同(tong)的顏色表示,形(xing)成一張地形(xing)圖(tu)(tu),可(ke)以(yi)實時看到(dao)電磁(ci)場。空間掃描的結果可(ke)以(yi)與PCB設(she)計圖(tu)(tu)或者機箱的結構(gou)圖(tu)(tu)疊在一起顯示。這(zhe)樣可(ke)以(yi)讓我(wo)們更容易(yi)分析是什么(me)部(bu)件產生(sheng)的輻(fu)射(she)。

EMSCAN電磁干擾掃描

頻譜/空間掃(sao)描

對選定區域進行一個(ge)頻率(lv)(lv)范圍(wei)的(de)(de)掃描,測(ce)量被(bei)測(ce)物每個(ge)空(kong)間(jian)位置(zhi)(zhi)上(shang)整個(ge)頻率(lv)(lv)段的(de)(de)輻射情況,測(ce)量一次(ci)(ci)后,可(ke)以在(zai)自己的(de)(de)計算(suan)機(ji)上(shang)對測(ce)量結(jie)果進行細致的(de)(de)分析,如合(he)成頻譜(pu)(pu)功(gong)能(幾個(ge)空(kong)間(jian)點(dian)(dian)的(de)(de)頻譜(pu)(pu)圖)和合(he)成空(kong)間(jian)功(gong)能(幾個(ge)頻率(lv)(lv)點(dian)(dian)的(de)(de)空(kong)間(jian)分布),不需要再次(ci)(ci)測(ce)量,可(ke)以任意組合(he)空(kong)間(jian)位置(zhi)(zhi)查(cha)看(kan)合(he)成頻譜(pu)(pu)圖,或者任意組合(he)頻率(lv)(lv)點(dian)(dian)查(cha)看(kan)空(kong)間(jian)分布圖。

頻譜/空間掃(sao)描能(neng)迅速(su)定位干擾源的(de)具體(ti)位置,功能(neng)非常強大。


EMSCAN電磁干擾掃描


 

1.        高速(su)掃描(miao),快速(su)定位:陣列探頭技術的(de)應用,讓我們實時看清活動的(de)電磁場(chang)。

2.        捕(bu)捉(zhuo)瞬態電磁干(gan)(gan)擾的能(neng)力(li):連續掃(sao)描(miao)方(fang)式以及峰值(zhi)保持功能(neng),能(neng)捕(bu)捉(zhuo)到一般(ban)手段所無法(fa)捕(bu)捉(zhuo)到的瞬態電磁干(gan)(gan)擾。

3.        頻譜/空間掃描能一次測量獲取被測物完整電磁場信息,能迅速準確定位電磁干擾源。

4.        全(quan)方位測量任意體(ti)積(ji)的被測物

ISM能(neng)掃描(miao)測量任(ren)意尺寸的PCB、機(ji)箱、機(ji)架、連接(jie)電纜(lan),還能(neng)排除系統(tong)互連中(zhong)的電磁干擾問(wen)題。ISM掃描(miao)器一(yi)次掃描(miao)區域可達318 mm × 220 mm,厚度17mm并且設計為全絕緣的平(ping)板(ban)掃(sao)描器(qi)重(zhong)量輕、易移(yi)動,可以快速完成單(dan)板(ban)掃(sao)描,也(ye)能非常方便地插到(dao)被測物的內部進(jin)行掃(sao)描。

5.   精心設計的探頭陣列:探頭以間距7.5mm排列,呈人字形交叉排列,能測量各個方向的電磁場。

6.        功能(neng)(neng)強大(da)的(de)后(hou)臺分析和處理能(neng)(neng)力

空間重疊顯示功(gong)能:可(ke)以(yi)直接輸入(ru)光繪文件,與掃描結果疊加在(zai)一(yi)起顯示,方便定(ding)位(wei)分析(xi)。

頻譜(pu)重疊顯(xian)示(shi)功(gong)能:可(ke)以把(ba)兩次頻譜(pu)測量(liang)結果疊加在一起顯(xian)示(shi),方便(bian)對(dui)比(bi)。

還有測(ce)量結果的(de)三(san)維顯示、頻(pin)譜(pu)比(bi)較(jiao)、空間比(bi)較(jiao)、合成頻(pin)譜(pu)、合成空間等非常實用的(de)功(gong)能(neng)。

7.        極其簡單和快速的安裝、維護和操(cao)作程(cheng)序

操(cao)(cao)(cao)作(zuo)者無須(xu)了解頻譜(pu)分析儀的操(cao)(cao)(cao)作(zuo),所有操(cao)(cao)(cao)作(zuo)都在(zai)終端計(ji)算(suan)機(ji)的軟件界面(mian)中完成。


主(zhu)要技(ji)術指標

ISM掃描器

頻率范(fan)圍

取決(jue)于(yu)掃描器型(xing)號(hao),*寬(kuan)可達50 kHz  4GHz

天線陣(zhen)列

2436個環,形成1218 (42×29) H-場探頭(tou)

 

一致性

出(chu)廠前校準,范圍: ±3dB

空間分辨率

探頭間距 7.5mm,形成3.75mm的物(wu)理(li)分辨率

掃描區域

316 mm ×218 mm

輻射(she)功(gong)率負載

10瓦(wa)(40dBm

尺寸

6U(長××高(gao)):392 mm×244 mm×167 mm

重量:

<2.6公斤(含適配器和電纜(lan))



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